Standardization of proton induced X-ray emission for analysis of trace elements in thick samples

This paper presents the standardization of proton induced X-ray emission (PIXE) technique for the analysis of trace elements in thick, standard samples. Three standard reference materials, titanium, copper, and iron base alloys, were used for the study due to their availability. The proton beam was accelerated up to 2.57 MeV energy by 5UDH-II tandem Pelletron accelerator, and samples were irradiated at different geometries and durations. Spectra were acquired using a multi-channel spectrum analyzer, and spectra analyses were done using GUPIXWIN software for determination of elemental concentrations of trace elements. The obtained experimental data were compared with theoretical data and results were found to be in close agreement.

Nous présentons ici une standardisation de la technique d’émission X induite par protons (EXIP/PIXE) pour l’analyse des éléments traces dans des échantillons épais. Parce qu’ils sont largement disponibles, nous utilisons des matériaux de référence standards pour le titane, le cuivre et le fer. Le faisceau de protons est accéléré jusqu’à 2,57 MeV par notre tandem Pelletron 5UDH-II et les échantillons sont irradiés en variant la durée et la géométrie. Les spectres sont enregistrés à l’aide d’un analyseur multicanaux et leur analyse se fait à l’aide du modèle de Guelph (GUPIXWIN) pour déterminer la concentration des éléments traces. Nos résultats de mesure sont comparés à des calculs théoriques et l’accord est très bon. [Traduit par la Rédaction]