Lifetimes of Low Lying Levels of ¹⁸O, ¹⁸Ne

The T(¹⁶O,p)¹⁸O reaction has been employed to measure the lifetimes of the 1.98 MeV 2⁺ level (τ = 3.35 ± 0.20 ps) and the 3.55 MeV 4⁺ level (τ = 24.5 ± 3.3 ps) of ¹⁸O by the recoil distance method. The lifetime of the 1.89 MeV 2⁺ level of ¹⁸Ne (τ = 0.63 ± 0.13 ps) has been measured by observing the Doppler shift attenuation of γ rays from ¹⁸Ne ions recoiling from the ¹⁶O(³He,n) reaction into Y and Ta backings. Transition rates in these mirror nuclei are compared with theoretical predictions.

On a utilisé la réaction T(¹⁶O,p)¹⁸O pour mesurer les vies moyennes des niveaux 1.98 MeV 2⁺ (τ = 3.35 ± 0.20 ps) et 3.55 MeV 4⁺ (τ = 24.5 ± 3.3 ps) de ¹⁸O par la méthode de distance de recul. La vie moyenne du niveau 1.89 MeV 2⁺ de ¹⁸Ne (τ = 0.63 ± 0.13 ps) a été mesurée en observant l'atténuation de l'effet Doppler des rayons γ des noyaux ¹⁸Ne en recul dans Y et Ta après réaction ¹⁶O(³He,n). Les taux de transition obtenus pour les noyaux miroirs ¹⁸O et ¹⁸Ne sont comparés avec les prédictions de la théorie. [Traduit par le journal]